Photonic Lattice近红外双折射测量系统

简要描述：Photonic Lattice近红外双折射测量系统，PA-300-NIR 采用近红外波段 850nm 测量波长，即便肉眼不可透光的材料，也能以 500 万像素高分辨率，快速完成双折射 / 相位差分布测量。适用于硫系玻璃透镜等可透过近红外波长的被测样品。WPA-200-NIR 搭载近红外波段三波长测量模式，可对能够透过近红外光的样品开展双折射检测，适合车载激光雷达零部件的形变测量等场景。

Name: Photonic Lattice近红外双折射测量系统PA/WPA-NIR
Brand: 其他品牌
Price: 100000 CNY
Availability: InStock

基础信息

产品型号

PA/WPA-NIR

厂商性质

代理商

更新时间

2026-10-16

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详细介绍

品牌	其他品牌	产地类别	进口

Photonic Lattice近红外双折射测量系统

Photonic Lattice近红外双折射测量系统：PA-300-NIR 采用近红外波段 850nm 测量波长，即便肉眼不可透光的材料，也能以 500 万像素高分辨率，快速完成双折射 / 相位差分布测量。适用于硫系玻璃透镜等可透过近红外波长的被测样品。

WPA-200-NIR 搭载近红外波段三波长测量模式，可对能够透过近红外光的样品开展双折射检测，适合车载激光雷达零部件的形变测量等场景。

焦耳透镜测量案例

Photonic Lattice近红外双折射测量系统

硫系玻璃透镜（无法透过可见光，因此看起来呈黑色）

Photonic Lattice近红外双折射测量系统

LiDAR激光扫描仪盖测量案例

Photonic Lattice近红外双折射测量系统

LiDAR激光扫描仪盖（CG图像）

Photonic Lattice近红外双折射测量系统

检测到注塑成型过程中，树脂在模具内部汇合位置形成线状痕迹的熔接痕（weld line）。若将检测结果以相位差实时显示，还可在移动工件的同时，观测树脂内部的形变分布。

Photonic Lattice PA-300-NIR 近红外双折射测量系统技术规格

分类	项目	参数
测量	输出项目	相位差 (nm)，相位轴方位角 (°) ※可通过数据处理选项换算应力值（MPa）
	测量范围	0～213nm
	重复再现性	σ＜1.0nm
传感器单元	双折射像素	2056 × 2464（约 500 万）像素
	测量波长	850nm
机身	尺寸 (宽 × 深 × 高)	270 × 337 × 最大 631mm
	测量视野	约 30 × 36mm～约 100 × 133mm（标准镜头）约 5.5 × 6.6mm～约 25 × 30mm（变焦镜头※选配）
	主机重量	约 12kg
其他	接口	GigE（相机信号）
	电源 / 电流	AC100～240V（50/60Hz） / 最大 6.0A
	软件	PA-View
	附属品	台式电脑、标准镜头、使用说明书

Photonic Lattice WPA-200-NIR 近红外双折射测量系统技术规格

分类	项目	参数
测量	输出项目	相位差 (nm)，相位轴方位角 (°) ※可通过数据处理选项换算应力值（MPa）
	测量范围	0～3500nm（以石英样品进行评估时）
	重复再现性	σ＜1.0nm
传感器单元	双折射像素数	384 × 288（约 11 万）像素
	测量波长	810nm，850nm，880nm
机身	尺寸 (宽 × 深 × 高)	270 × 337 × 最大 631mm
	测量视野尺寸	约 27 × 36mm ～约 100 × 133mm（标准镜头）约 3.0 × 4.0mm ～约 14.2 × 19.0mm（变焦镜头※选配）
	主机重量	约 13kg
其他	接口	GigE（相机信号）
	电源 / 消耗电流	AC100～240V（50/60Hz） / 最大 5.0A
	软件	WPA-View
	附属品	台式电脑、标准镜头、使用说明书

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