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Photonic Lattice 在线双折射测量系统

简要描述:Photonic Lattice 在线双折射测量系统,WPA‑KAMAKIRI 是日本 Photonic‑Lattice 大视场二维双折射测量系统,搭载光子晶体偏振阵列,无旋转偏振机构,快照式二维面成像,单次约 3 秒输出相位差、光轴方位角二维分布云图。

基础信息

产品型号

WPA-KAMAKIRI

厂商性质

代理商

更新时间

2026-10-16

浏览次数

18

产品分类

PRODUCT CLASSIFICATION

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详细介绍
品牌其他品牌产地类别进口

Photonic Lattice 在线双折射测量系统


WPA‑KAMAKIRI 是日本 Photonic‑Lattice 大视场二维双折射测量系统,搭载光子晶体偏振阵列,无旋转偏振机构,快照式二维面成像,单次约 3 秒输出相位差、光轴方位角二维分布云图。 采用三波长演算算法,解决高相位差测量歧义问题;专为大尺寸样品设计,测量视野可调,最大 320×255 mm,适配大尺寸 PET、TAC、COP 光学薄膜、大尺寸树脂板材、大型注塑光学件;可选购高相位差扩展模块,量程最高到 10000 nm;配套 WPA‑View 软件,选配模块换算等效应力 MPa;本机为一体式台式离线设备,不支持直接拆分机头,产线在线版本为 KAMAKIRI‑INLINE。


如果需要高空间分辨率的评估,该产品非常有效。PET薄膜和树脂成型产品通常相位差超过1000纳米,这使得光学系统在双折射分布的定量评估中变得复杂。

WPA系列,可以通过选择三种不同波长并比较计算每个波长的相位差,测量约3000纳米的相位差。此外,还提供高相差选项,以满足测量约10,000纳米超高相差的需求。


Photonic Lattice 在线双折射测量系统技术规格:

分类项目参数
测量输出相位偏移 / 延迟(nm),轴向(°),应力等效(MPa)※作为 “数据处理" 选配功能

分布范围0~3500nm(测量纯石英条件下)

重复性σ<1.0nm
传感器部件分辨率852×680(约 0.58M)像素

工作波长523nm,543nm,575nm
硬件尺寸(宽 × 深 × 高)430×487× 最大 1155 mm

视野约 97×77mm ~ 约 320×255mm

重量约 23kg
其他界面专用 PCI Express 接口

电源AC100~240V 50/60Hz,77W 交流适配器

配套软件WPA-View

包含物品台式电脑,物镜,用户手册


测定案例
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