Photonic Lattice PA-300 低相位差测量仪

简要描述：Photonic Lattice PA-300 低相位差测量仪,二维双折射测量系统凭借其光子晶体偏光阵列技术，在测量速度、空间分辨率、操作便捷性等方面实现了对传统方法的全面超越。500 万像素面阵检测、3 秒 / 片测量速度、0.1nm 重复精度的技术指标。

Name: Photonic Lattice PA-300 低相位差测量仪pa-300
Brand: 其他品牌
Price: 100000 CNY
Availability: InStock

基础信息

产品型号

pa-300

厂商性质

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更新时间

2026-10-16

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Photonic Lattice PA-300 低相位差测量仪

PA-300 是日本 Photonic Lattice（光子晶格株式会社）推出的高精度二维双折射 / 应力测量系统，采用光子晶体偏光阵列技术，实现纳米级相位差的高速面阵检测，是精密制造领域应力质量管控的核心设备。

Photonic Lattice PA-300 低相位差测量仪主要特点：

高速测量：每片样品仅需约 3 秒，适用于产线在线检测

高分辨率：500 万像素偏振相机，成像清晰数据精准

无旋转机构：采用光子晶体偏光阵列片，无旋转光学滤片，维护简便故障率低

宽视野范围：从显微级（约 5.5mm）到大幅面（约 480mm），适配多种样品尺寸

适用材料：光学玻璃、智能手机玻璃基板、蓝宝石、石英玻璃等低相位差透明材料

技术规格

项目	参数
输出项目	相位差 / 光程差 (nm)、轴方向 (°)、应力换算 (MPa) ※数据处理软件选配
测量范围	0～130nm
重复精度	相位差：σ<0.1nm；轴方向：σ<0.1°
像素分辨率	2056×2464（约 500 万像素）
工作波长	520nm
接口	GigE
电源	AC100～240V（50/60Hz）/ ～6.0A
软件	PA-View
标准配件	台式电脑、标准镜头、用户手册

PA-300 系列应力分析仪

项目	PA-300	PA-300-L	PA-300-XL
测量范围	0～130nm	0～130nm	0～130nm
输出项目	相位差、相轴方位角	相位差、相轴方位角	相位差、相轴方位角
重复性	相位差 σ＜0.1nm；轴方位角 σ＜0.1°	相位差 σ＜0.1nm；轴方位角 σ＜0.1°	相位差 σ＜0.1nm；轴方位角 σ＜0.1°
传感器像素	2056×2464，约 500 万像素	2056×2464，约 500 万像素	2056×2464，约 500 万像素
测量波长	520nm	520nm	520nm
标准镜头视场	约 30×36 ~ 100×133mm	约 37×44 ~ 240×320mm	约 242×290 ~ 360×480mm
变焦镜头	可选	可选	不兼容
设备尺寸	270×337× 最大 631mm	430×487× 最大 1166mm	650×650× 最大 1930mm
重量	约 12kg	约 23kg	约 46kg
接口	GigE	GigE	GigE
电源	AC100～240V，50/60Hz	AC100～240V，50/60Hz	AC100～240V，50/60Hz
软件	PA-View	PA-View	PA-View

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