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| 品牌 | 其他品牌 | 产地类别 | 进口 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 能源,航空航天,汽车及零部件,综合 |
D&S AE1/RD1半球发射率测量仪简要概述
一、产品简介
D&S AE1/RD1半球发射率测量仪是一种专用测量仪器,用于按照 ASTM C1371 标准测定材料的半球发射率。配套的Model RD1 可调数字电压表为发射率仪的读数装置,可通过调节增益旋钮使读数直接等于校准标准的发射率,从而在探测器置于被测材料上时直接显示其发射率。AE1的发射率测量近似于 150°F(65°C)下的总半球发射率。探测器响应辐射热传递,其电压输出与发射率近似线性,测量结果可靠、操作直观。
二、工作原理
Model AE1 传感器响应样品的辐射热传递,输出电压与发射率近似线性。校准发射率仪后,发射率的测定分两步完成:
步骤一:将发射率仪置于高发射率标准样品上,调节 RD1 使其指示该标准的发射率;
步骤二:将发射率仪置于被测材料上,直接在 RD1 上读出发射率。
三、特点
1.重复性好:±0.01 发射率单位
2.操作简便:探测器部分电加热,样品无需加热,也无需进行温度测量
3. 测量快速:初始预热约 30 分钟后,每 1.5 分钟即可完成一次发射率读数
4. 经济实惠:与同类测量设备相比,成本更低
5. 符合 ASTM C1371 与 ISO 要求
6. 提供小尺寸样品适配器,以及用于非平面样品的定制适配器
四、技术规格
项目 | 参数 |
输出 | 2.4 mV(标称),对应样品发射率 0.9、样品温度 78°F(25°C) |
线性度 | 探测器输出与发射率呈线性,误差 ±0.01 单位以内 |
时间常数 | 约 10 秒(达到终值 63% 所需时间) |
散热器 | 提供散热器,使校准标准与被测材料保持相同温度 |
样品温度 | 最高 130°F;样品与校准标准须处于相同温度 |
漂移 | 输出随时间受环境条件变化影响,测量所需时间内该影响可忽略 |
标准 | 提供两套高发射率与两套低发射率标准;一套用作工作校准标准,另一套留作参考保存 |
交流电源适配器 | 通用交流适配器,100–240V、50–60 Hz、12V 直流,配美标模块化电源线 |
五、标准配置(AE1/RD1 套件)
Model AE1 发射率仪与 Model RD1 可调数字电压表(可直接读出发射率)
发射率校准标准(高、低发射率各两套)
校准证书
散热器
电源/输出电缆
通用电源与电源线
手提箱
六、可选选项
选配项 | 说明 |
AE-AD1 | 测量 1.5 英寸(3.8 cm)直径平面的适配器 |
AE-AD3 | 测量 1.0 英寸(2.54 cm)直径平面的适配器 |
AE-ADP | 测量1.5 英寸(3.8 cm)直径平面、低导热率材料、大半径(>2 英寸)圆柱面及粗糙或纹理表面的适配器 |
定制适配器 | 可为圆柱面或其他表面几何形状定制设计 |
电池组 | 锂离子电池组,支持 12 小时连续运行,带低电量指示与通用充电适配器 |
ISO 认证 | 可提供 ISO 合规的校准与符合性证书 |
10 倍增益选项 | RD1 可调数字电压表的可选增益设置,可将发射率读至三位数 |

图1 发射率仪整体外形与尺寸标注

图2 被测样品平面尺寸:直径 2.25 in(5.7 cm)

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